Это оптический исследовательский прибор, оснащенный дополнительными поляризующими фильтрами. Он позволяет изучать различные анизотропные соединения в отраженном или проходящем свете.
Устройство поляризационного микроскопа
В целом строение прибора повторяет обычные световые микроскопы. Но в нем есть три важных элемента:
Осветитель. Размещается в основании, представляет диодную или галогеновую лампу с возможностью регулировки интенсивности генерируемого светового потока.
Поляризатор. Выполняется в виде пластинки расположенной над осветителем. В продвинутых приборах поляризатор может вращаться.
Конденсор. Состоит из системы линз, установленной непосредственно под предметным столиком. Она позволяет сформировать достаточно концентрированный пучок излучения и направить его на изучаемый образец.
Важной частью конденсора является система регулировки, позволяющая изменять яркость, контрастность, глубину резкости и другие важные показатели. Важно учитывать, что для получения изображения с высокой четкостью нужно чтобы числовая апертура конденсора была близка к аналогичному показателю объектива.
Большинство веществ (как органической, так и неорганической природы) обладают анизотропным строением, то есть их свойства отличаются в зависимости от направления. В результате у них возникает важное свойство, называемое двойным лучепреломлением.
Если через такие вещества или материалы проходит поляризованное световое излучение, они демонстрируют уникальные черты рельефа, морфологии, интерференции. Это позволяет точно идентифицировать исследуемые объекты, получить дополнительные данные о них.
В упрощенном виде описание алгоритм работы с этим прибором для микроскопии выглядит так:
Сгенерированный осветителем свет проходит через поляризатор, становится линейно-поляризованным.
Далее излучение фокусируется линзами.
Пучок направленного света направляется на образец, который расщепляет его на две составляющие.
Лучи попадают в расположенный над образцом фильтр (анализатор).
Далее они световое излучение поступает в обычные окуляры.
В зависимости от взаимного расположения верхнего и нижнего фильтров в анализаторе может возникать усиливающая или ослабляющая интерференция. За счет этого явления проявляются различные уникальные черты исследуемых образцов.
Особенно хорошо методика подходит для изучения кристаллических соединений, в которых присутствуют хорошо выраженные оптические оси. Изотропные образцы будут выглядеть равномерно темными или светлыми, что не позволит получить дополнительные сведения об их структуре или свойствах.
